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半导体冷热冲击试验机

咨询热线: 来源:冷热冲击试验箱<艾思荔> 浏览: 发布日期:2018-06-26 10:31

一、半导体冷热冲击试验机技术参数:  
半导体冷热冲击试验机温度范围:高温箱:+60℃~200℃;  
低温箱:0℃~-70℃;  
温度波动度:±0.5℃;  
温度均匀:±2℃;  
升温速率:≤5℃/min;(全程平均)  
降温速率:≤5℃/min;;(全程平均)  
预冷下限温度:≤-70℃;  
冲击温度:+150~-60℃;  
样品架尺寸:150×150mm;  
温度恢复时间:5min;  
样品架转换时间:≤10s;  
电源:380V±10﹪50Hz  
二、半导体冷热冲击试验机产品特点;
◆采用伺服冷媒流量控制技术有效达到节能40%以上
◆ 实验循环进行,有效达到3天除霜一次,除霜只需2小时
◆ 采用纯铝翅片蒸发器,有效降低储能时间和能量节省
◆ 具有两箱和三箱测试功能,符合测试规范
◆ 世界首创观察视窗,有效达到物测目视效果
◆ 实时实验曲线分析,配备RS232,USB数据存储连接
◆ 具有报警提示即解出报警装置画面图文解说
◆ 试验结束待测品自动回常温避免结霜结露保护机制
三、半导体冷热冲击试验机满足标准:
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法;
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法;
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验
4、GJB150.5-86温度冲击试验;
5、GJB360.7-87温度冲击试验;
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11、GB/T 2423.22-2002温度变化
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
四、半导体冷热冲击试验机概要:  
   半导体冷热冲击试验机是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备,考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品,在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能,使用的适应性,适用于学校,工厂,军工,研位,电器等企业单位。  
  半导体冷热冲击试验机为了保证试验箱降温速率和最低温度的要求,本试验箱采用一套进口法国“泰康”全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统。复叠制冷系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环;原装进口液晶显示触控式莹幕直接按键型控制器,中文表示7.5”的图形之广视角,高对比附可调背光功能之大型LCD液晶显示控制器。  

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